X射线荧光光谱法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤须有非常好的重复操作可能性；用于制作校准曲线的标准样品和分析样品须经过同样的制样处理过程。

　　X射线荧光分析仪从根本上来说是一种相对测量仪器，因此在使用过程中，需要定期对仪器进行标定和校准。

　　为保证有害元素含量的控制效果，X射线荧光分析仪的测量数据应与其他的测量手段结合起来使用；X射线荧光分析仪更适合生产过程的监控，甚至可以说：在生产过程中对有害元素含量的监控，X射线荧光分析方法是目前可行的分析手段；而有害元素含量的最终裁定，则不应该仅仅依靠单一的测量手段。

　　荧光分析X射线管X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。

被测量样品的处理与测量精度的关系：

　　从X射线荧光分析理论上说，对被测量样品进行需要的处理是须的；一般来说，样品处理的越好，则测量精度就会越高，测量结果越可靠。在实际使用过程中，·J9九游会·应该尽量对被测量样品进行需要的物理处理。

　　在测量不规则的样品时，虽然从X射线荧光分析方法上可以对测量进行技术上的校正，从而满足实际测量的需要；但这样做所付出的代价是牺牲测量精度和测量数据的可靠性。

　　X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还须防止样品的损失和沾污。